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电路测试
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(美) mark burns, gordon w. roberts等著
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(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著
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(1)
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中国电子学会电子制造与封装技术分会
(1)
中国电子学会电子制造与封装技术分会, 电子封装技术丛书编委会组织编写
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主编郭锁利
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冯建华, 肖钢等译
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包军林
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张东辉,杜海龙编著
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1.
现代集成电路测试技术
订购中
著者:
时万春
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2006
文献类型:
图书 , 索书号:
3
在馆信息
内容简介
2.
集成电路测试技术
订购中
著者:
武乾文
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022.10
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/406
在馆信息
内容简介
3.
集成电路测试指南
已借1次.
订购中
著者:
邬刚
王瑞金
包军林
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2021.07
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/395
在馆信息
内容简介
4.
最新集成电路测试技术
订购中
著者:
高成
张栋
王香芬
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2009
文献类型:
图书 , 索书号:
3
在馆信息
内容简介
5.
混合信号集成电路测试与测量
订购中
著者:
伯恩斯
罗伯茨
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2009
文献类型:
图书 , 索书号:
1
在馆信息
内容简介
6.
典型应用电路分析与设计:原理分析、实际测试、故障排除
已借1次.
订购中
著者:
张东辉
杜海龙
出版社:
清华大学出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
TM/392
在馆信息
内容简介
7.
电路测试与电工基础实验
订购中
著者:
田化梅
李玲远
出版社:
科学出版社
出版日期: 2006
文献类型:
图书 , 索书号:
3
在馆信息
内容简介
8.
数字电路与逻辑设计实验教程
订购中
著者:
史晓东
苏福根
陈凌霄
出版社:
北京邮电大学出版社
出版日期: 2008.05
文献类型:
图书 , 索书号:
3
在馆信息
内容简介
9.
开关电源实例电路测试分析与设计
已借1次.
订购中
著者:
葛中海
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2021.6
文献类型:
图书 , 索书号:
TN8/169
在馆信息
内容简介
10.
数字系统测试和可测试性设计
订购中
著者:
纳瓦比
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
2
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