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1.
著者: 时万春
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: 3
2.
著者: 武乾文
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022.10
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/406
3.
集成电路测试指南 已借1次.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2021.07
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/395
4.
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: 3
5.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: 1
6.
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TM/392
7.
出版社: 科学出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: 3
8.
出版社: 北京邮电大学出版社   出版日期: 2008.05
文献类型: 图书 , 索书号: 3
9.
著者: 葛中海
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2021.6
文献类型: 图书 , 索书号: TN8/169
10.
著者: 纳瓦比
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: 2